首页> 中国专利> 用于X射线衍射测量的具有针对非理想传感器行为的校正的多次采样CMOS传感器

用于X射线衍射测量的具有针对非理想传感器行为的校正的多次采样CMOS传感器

摘要

通过一个五步骤处理来降低CMOS有源像素传感器中的每个像素的读出噪声,在该五步骤处理中,在一个传感器帧时间段期间对来自该传感器的像素电荷数据进行多次无损采样,且针对增益变化和非线性校正该像素电荷数据。然后,估计固定图案噪声和暗电流噪声,且将其从经校正的像素电荷数据减去。接下来,估计复位噪声,且将其从该像素电荷数据中减去。在步骤四中,将电荷与时间的关系的模型函数拟合到经校正的像素电荷数据样本。最后,在帧边界时间处评估经拟合的模型函数。

著录项

  • 公开/公告号CN103946692B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-03-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 布鲁克AXS公司;

    申请/专利号CN201280053726.0

  • 申请日2012-10-30

  • 分类号

  • 代理机构北京北翔知识产权代理有限公司;

  • 代理人杨勇

  • 地址 美国威斯康星州

  • 入库时间 2022-08-23 09:52:58

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-03-01

    授权

    授权

  • 2014-11-05

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 23/00 申请日:20121030

    实质审查的生效

  • 2014-07-23

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号