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用于测量两个空间上分离的元件之间的角度的方法

摘要

本发明涉及一种用于测量两个空间上分离的元件(1,2)之间的角度的方法,具有以下步骤:a)制备具有多个干涉图案的多重全息图,至少两个干涉图案具有到全息图平面上的物光波的不同的入射角,干涉图案的入射角被存储为机器可读数据;b)将多重全息图布置在第一元件上的第一元件平面中;c)使用参考光波照射多重全息图;d)将光检测器布置在第二元件上的第二元件平面中;e)使用光检测器来检测在干涉图案上折射的参考光波;f)从检测到的折射参考光波创建强度图案;g)将存储为机器可读数据的入射角分配给强度图案;h)根据分配的入射角来计算第一元件平面与第二元件平面之间的角度。

著录项

  • 公开/公告号CN104011500B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-03-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 赫克斯冈技术中心;

    申请/专利号CN201380004420.0

  • 申请日2013-01-16

  • 分类号

  • 代理机构北京三友知识产权代理有限公司;

  • 代理人吕俊刚

  • 地址 瑞士赫尔布鲁格

  • 入库时间 2022-08-23 09:52:52

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-03-08

    授权

    授权

  • 2014-09-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/26 申请日:20130116

    实质审查的生效

  • 2014-08-27

    公开

    公开

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