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由单幅图像测量场景及场景内物体几何信息的方法

摘要

一种由单幅图像测量场景及场景内物体几何信息的方法,包括步骤:拍摄一幅或多幅被测场景的图像并输入计算机;从图像中提取出参考平面内的点或直线的信息,垂直平行线的信息及参考距离的端点;利用参考平面内的点或直线的信息及其与场景的对应关系,求出参考平面到图像的映射关系矩阵;利用垂直平行线的信息及映射关系矩阵计算出图像上的消隐点及参考平面的消隐线;然后利用这些信息进行测量。本发明可以进行下述测量:点在场景坐标系中的坐标及两点之间的距离、物体的高度、点到直线的距离、两直线间的夹角、平面图型的面积以及规则物体的体积等。本发明提供的测量方法测量精度高、鲁棒性好,使基于视觉的测量方法走向实用。

著录项

  • 公开/公告号CN1224938C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2005-10-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院自动化研究所;

    申请/专利号CN02118167.5

  • 发明设计人 王光辉;吴福朝;胡占义;

    申请日2002-04-23

  • 分类号G06K9/36;G06K9/46;

  • 代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人戎志敏

  • 地址 100080 北京市海淀区中关村南一条1号

  • 入库时间 2022-08-23 08:58:08

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-06-12

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G06K 9/36 授权公告日:20051026 终止日期:20120423 申请日:20020423

    专利权的终止

  • 2005-10-26

    授权

    授权

  • 2004-01-14

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2003-11-05

    公开

    公开

  • 2002-07-17

    实质审查的生效

    实质审查的生效

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