实现COMMAND模式的MIPI模组测试方法和测试系统

摘要

本发明公开了一种实现COMMAND模式的MIPI模组测试方法和测试系统，用于COMMAND模式MIPI模组的出厂前配置测试，其方法的主要步骤包括：PG图像发生器根据MIPI模组的类型设置寄存器配置参数和图像数据，并将寄存器配置参数发送至MCU，将图像数据通过LVDS数据总线接口发送至FPGA；MCU根据寄存器配置参数产生DCS指令并发送至FPGA；FPGA通过LVDS数据总线接口接收图像数据信号，再将DCS指令与图像数据打包后发送至桥接芯片；桥接芯片发送DCS指令配置MIPI模组，并将图像数据转化为MIPI信号后传送至MIPI模组，MIPI模组根据MIPI信号显示图像数据，测试完成。