首页> 中国专利> 用于测量锻件错移及锻件凹面区域最小尺寸的卡尺

用于测量锻件错移及锻件凹面区域最小尺寸的卡尺

摘要

提供一种用于测量锻件错移及锻件凹面区域最小尺寸的卡尺,包括数显卡尺,所述数显卡尺的前爪和后爪的内侧壁上分别固定有前辅助测量件和后辅助测量件,锻件设于前辅助测量件和后辅助测量件之间并通过移动后爪使前辅助测量件和后辅助测量件内端部分与测量位置接触后实现对锻件错移及锻件凹面区域最小尺寸的测量。本实用新型通过在数显卡尺的前爪和后爪的内侧壁上分别固定有前辅助测量件和后辅助测量件,可以测量锻件错移及锻件凹面区域最小厚度,解决现有技术中锻件错移测量困难、凹面厚度测量工具单一且测量不便的问题,结构简单,加工方便快捷,降低锻件测量难度,提高测量效率,具有较高的使用价值。

著录项

  • 公开/公告号CN214583144U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2021-11-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 陕西斯坦特生物科技有限公司;

    申请/专利号CN202120705212.5

  • 发明设计人 吴坤;詹文革;宋德旭;

    申请日2021-04-07

  • 分类号G01B21/08(20060101);

  • 代理机构11350 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人宋秀珍

  • 地址 722306 陕西省宝鸡市眉县金渠镇霸王河工业园

  • 入库时间 2022-08-23 01:28:04

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号