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公开/公告号CN214485190U
专利类型实用新型
公开/公告日2021-10-26
原文格式PDF
申请/专利权人 清华大学;
申请/专利号CN202022233230.6
发明设计人 黄文会;靳清秀;谭承君;唐传祥;陈怀璧;
申请日2020-10-09
分类号A61M1/02(20060101);H01J35/06(20060101);H01J35/24(20060101);
代理机构11002 北京路浩知识产权代理有限公司;
代理人李文丽
地址 100084 北京市海淀区双清路30号清华大学
入库时间 2022-08-23 01:19:35
机译: 辐照场限制装置,包括该辐照场限制装置的X射线产生单元以及包括该辐照场限制装置的X射线射线照相系统
机译: 辐照场限制装置,包括该辐照场限制装置的x射线产生单元以及包括该辐照场限制装置的x射线射线照相系统
机译: 辐照场限制装置,包括辐照场限制装置的X射线产生单元以及包括辐照场限制装置的X射线放射照相系统
机译:在CZ硅中通过软X射线辐照的空位碳的超扩散/在CZ硅中通过X射线辐照的空位的碳超扩散
机译:使用X射线衍射,X射线光电子能谱和原子力显微镜对X射线辐照的氧化石墨烯涂层进行表征
机译:在CRIEPI使用微束X射线细胞辐照系统对软X射线诱导的旁观者细胞杀伤进行微束研究
机译:在美国最大的医疗中心之一的X射线照射器中成功迁移到X射线辐照
机译:模拟锆合金中的辐照引起的位错环:了解其结构,形成以及对X射线衍射线轮廓的影响
机译:X射线单能X射线辐照对肺癌细胞膜脂质过氧化作用的增强
机译:X射线分析仪测量辐照剂量:X射线设备施用的研究
机译:使用布拉格 - 布伦塔诺X射线衍射仪精确测量晶格参数应用于中子辐照碳化硅。