一种不受背景影响的微纳粒子的光学探测与显微成像方法

摘要

本发明公开了激光测量技术领域中的一种不受背景影响的微纳粒子的光学探测和显微成像方法，微纳粒子的直径范围覆盖10纳米到400纳米。本发明利用高数值孔径的浸油显微物镜激发贵金属/介质界面的表面等离子体共振，该焦平面处的光场分布经微纳粒子散射并由另一显微物镜收集后作为信号光与参考光进行偏振外差干涉，通过提取透射光的纵向偏振态的振幅和相位，实现微纳粒子的探测和成像。本发明利通过控制表面等离子体的激发条件，使直径大于400纳米的粒子在该激发下不产生表面等离子体共振，从而去除大粒子背景，实现在大粒子存在的背景中探测并成像微纳粒子。