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公开/公告号CN211785232U
专利类型实用新型
公开/公告日2020-10-27
原文格式PDF
申请/专利权人 上海大学;
申请/专利号CN201921579276.4
发明设计人 张良苗;刘德余;
申请日2019-09-23
分类号G01N23/207(20060101);G01N23/20033(20180101);
代理机构31205 上海上大专利事务所(普通合伙);
代理人顾勇华
地址 200444 上海市宝山区上大路99号
入库时间 2022-08-22 17:27:07
机译: X射线衍射测定装置的测定方法以及x射线衍射测定装置
机译: X射线衍射测定装置中的X射线入射角检测方法及X射线衍射测定装置
机译: X射线衍射测定装置及x射线衍射测定装置的测定方法
机译:同步辐射原位X射线吸收细结构和原位X射线衍射分析高性能钴催化剂朝向氧还原反应
机译:使用原位同步辐射辐射掠入射X射线衍射了解腐蚀系统中的复杂电化学阻抗谱。
机译:使用同步辐射辐射的超细粒化铜的拉伸变形期间原位X射线衍射
机译:材料研究用原位同步辐射辐射粉的X射线衍射
机译:利用能量色散同步加速器X射线衍射对电池进行原位和操作表征。
机译:用同步辐射X射线衍射原位研究聚合物纳米复合材料发泡过程中的纳米粘土插层
机译:了解腐蚀系统中的复杂电化学阻抗光谱法使用原位同步辐射辐射入射入射X射线衍射
机译:基于NiTi的高温形状记忆合金的原位中子和同步辐射X射线衍射研究。