首页> 中国专利> 单面缺陷分析设备及缺陷检测和分析系统

单面缺陷分析设备及缺陷检测和分析系统

摘要

本实用新型涉及一种单面缺陷分析设备及缺陷检测和分析系统,包括:承载台,适于承载水平状态的产品;接收单元,用于从产品的检测设备接收产品的表面图像;面阵相机,对着产品的第一表面设置,用于定位到产品上由表面图像所指示的缺陷位置,且拍摄缺陷的缺陷图像,缺陷图像的质量高于表面图像的质量;以及驱动机构,用于驱动面阵相机沿着产品的第一表面移动。

著录项

  • 公开/公告号CN211576999U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2020-09-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 笪萨科技(上海)有限公司;

    申请/专利号CN201921327430.9

  • 发明设计人 孙平;

    申请日2019-08-14

  • 分类号G01N21/898(20060101);G01N21/13(20060101);B07C5/342(20060101);

  • 代理机构31100 上海专利商标事务所有限公司;

  • 代理人骆希聪

  • 地址 200233 上海市徐汇区桂平路471号9号楼504室

  • 入库时间 2022-08-22 16:54:50

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号