法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2022-11-29
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N19/02 专利号:ZL2019222451389 申请日:20191213 授权公告日:20200911
专利权的终止
机译: 一种利用测量装置测量被测物体光学表面形状的方法,包括将被测物体布置在物体支架上,设置多种测量配置,以及光学表面的干涉测量面积
机译: 液体喷射装置,再利用时间计测装置及再利用时间计测方法
机译: 利用感测装置感测非易失性存储器芯片的低压和低压感测系统的装置和方法