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微波反射率测量组件及微波反射率测量系统

摘要

一种微波反射率测量组件及微波反射率测量系统,属于微波测量领域。该微波反射率测量组件包括弓形架及设于弓形架上的两个测试天线,弓形架内还设有可升降的样品支架,样品支架的两侧分别设有相对布置的激光发射器和用于接收激光发射器发射激光的光传感器。本实用新型提供的微波反射率测量组件无需校准就能够快速高效的对不同材料进行多次测量。本实用新型还提供了包含上述微波反射率测量组件的微波反射率测量系统。

著录项

  • 公开/公告号CN209342634U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2019-09-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 航天科工武汉磁电有限责任公司;

    申请/专利号CN201822026105.0

  • 发明设计人 余争鸣;潘金杰;甘丹;毛晶晶;

    申请日2018-12-04

  • 分类号

  • 代理机构北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人孙海杰

  • 地址 430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区华光大道5-2号

  • 入库时间 2022-08-22 10:30:24

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-09-03

    授权

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