Per-Pin结构VXI总线测试系统时间沿校准模块

摘要

本实用新型公开了一种Per‑Pin结构VXI总线测试系统时间沿校准模块。该时间沿校准模块包括设置在印刷电路板上的主控制器、配置存储器、继电器矩阵和时间测量模块；主控制器一方面连接Per‑Pin结构VXI总线测试系统，另一方面分别连接配置存储器、继电器矩阵和时间测量模块；继电器矩阵一方面连接Per‑Pin结构VXI总线测试系统，另一方面连接时间测量模块。本时间沿校准模块可以与各种Per‑Pin结构VXI总线测试系统相互配合，自动完成相关测试系统的时间沿校准工作。