用于评估玻璃封装装置的脱层倾向的快速测试方法

摘要

本发明涉及一种用于评估玻璃封装装置中的脱层倾向的快速测试方法，尤其用于制药工业，该方法具有以下步骤：步骤(1)：使该玻璃封装装置暴露于由蒸汽组成的气氛以便形成一个腐蚀区；并且随后进行一个选自步骤(2a)、步骤(2b)或步骤(2c)的另外步骤，包括步骤(2a)：使用光学显微镜观察该腐蚀区；步骤(2b)：通过一个着色过程以及一个随后的检查过程来观察该腐蚀区；或步骤(2c)：去除超纯水中的玻璃组分并且对这些去除的玻璃组分进行定量。提供了一种快速检测方法，该快速检测方法以一种简单和可靠的方式并且在相对短的时间跨度内提供关于一个玻璃封装装置是否展现脱层倾向的结论。