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一种基于LXI总线的数字测试装置

摘要

本实用新型公开了一种基于LXI总线的数字测试装置,属于数据域测试的技术领域,包括控制模块、触发模块、DDS模块、FPGA模块、SRAM存储器、驱动器、设备连接端,其中控制模块、触发模块、DDS模块分别与FPGA模块相连;所述FPGA模块与SRAM存储器相连;所述SRAM存储器与驱动器、设备连接端依次相连;所述设备连接端与外部被测设备连接。所述控制模块包括控制终端和LXI接口电路,所述控制终端与LXI接口电路相连;所述LXI接口电路与FPGA模块相连。本装置基于LXI总线,为被测设备内的数字系统性能测试、现场调试、故障诊断提供有价值的试验依据,可以利用LXI总线提供的硬件触发线进行同步,使该装置通用性和扩展性强,具有使用简单,易于模块化、通用化和灵活化等的优点。

著录项

  • 公开/公告号CN203313210U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2013-11-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201320359842.7

  • 发明设计人 郭敏敏;梅敏鹏;白雪;张红兵;

    申请日2013-06-21

  • 分类号

  • 代理机构南京经纬专利商标代理有限公司;

  • 代理人朱小兵

  • 地址 210039 江苏省南京市雨花台区国睿路8号

  • 入库时间 2022-08-21 23:57:50

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-11-27

    授权

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