法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2016-12-07
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N23/00 授权公告日:20130403 终止日期:20151022 申请日:20121022
专利权的终止
2013-04-03
授权
授权
机译: 使用硅单晶的偏轴进行X射线衍射的非反射样品架,样品架制造方法以及包括样品架和X射线衍射分析方法的X射线衍射分析系统由于照明角度而不会产生衍射,从而降低噪音
机译: 包括单晶偏轴的样品架,样品架的制造方法,使用样品架的X射线衍射分析系统以及X射线衍射分析方法
机译: X射线荧光分析仪的样品架,样品架生产夹具以及制备X射线荧光分析仪的样品的方法