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光学测量系统及提高光学测量系统成像质量的方法

摘要

本发明公开了一种光学测量系统及提高大口径光学测量系统成像质量的方法。大口径光学测量系统由望远镜子系统和转台控制子系统组成。本发明中,为大口径光学测量系统增加了镜筒遮光罩子系统,并预先将镜筒遮光罩子系统设置于望远镜子系统外壁并半包裹,并沿镜筒视轴方向具有滑移性,并以镜筒视轴为轴心转动;根据实时获取的镜筒视轴方位角、镜筒视轴俯仰角、杂散光光源相对转台控制子系统的方位角、杂散光光源相对转台控制子系统的俯仰角以及镜筒直径,计算镜筒遮光罩子系统的调节参数;按照计算得到的调节参数驱动镜筒遮光罩子系统遮挡杂散光光源辐射至镜筒的杂散光。应用本发明,可以提高成像质量。

著录项

  • 公开/公告号CN103630243B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-04-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京环境特性研究所;

    申请/专利号CN201310586669.9

  • 发明设计人 王云强;李学智;万继敏;周健;

    申请日2013-11-20

  • 分类号

  • 代理机构北京君恒知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人黄启行

  • 地址 100854 北京市海淀区永定路50号

  • 入库时间 2022-08-23 09:38:37

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-04-20

    授权

    授权

  • 2014-04-09

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J 5/00 申请日:20131120

    实质审查的生效

  • 2014-03-12

    公开

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