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一种高精度长程面形检测系统及检测方法

摘要

本发明公开了一种高精度长程面形检测系统及检测方法,包括光学头,所述光学头用于将激光光源输出的光线分为参考光束和采样光束,所述采样光束经一分束装置分为沿所述光学头采样移动方向上相互平行采样光间距分别为s1和s2三路平行光,s1和s2称为横向剪切量,且每一路采样光的光路中设有一光学开关。所述参考光束依次经一反射镜、所述光学头返回输入到信号采集处理模块;所述采样光束经所述分束装置、所述光学头返回输入到信号采集处理模块;所述信号采集处理模块根据剪切向量对应的剪切图重建的待测物体表面倾斜角度。本发明能够有效降低扫描过程中测试光路中光学元件形貌误差和气浮导轨运动误差对测量结果的影响,提高测量精度。

著录项

  • 公开/公告号CN103292728B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-01-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院高能物理研究所;

    申请/专利号CN201310182031.9

  • 发明设计人 杨福桂;李明;刘鹏;盛伟繁;

    申请日2013-05-16

  • 分类号G01B11/24(20060101);

  • 代理机构北京君尚知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人余长江

  • 地址 100049 北京市石景山区玉泉路19号(乙)

  • 入库时间 2022-08-23 09:34:20

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-01-20

    授权

    授权

  • 2013-10-16

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/24 申请日:20130516

    实质审查的生效

  • 2013-09-11

    公开

    公开

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