纳米颗粒直径测量装置以及纳米颗粒直径测量方法

摘要

本发明涉及一种对纳米颗粒的直径进行测量的纳米颗粒直径测量装置，以及纳米颗粒直径测量方法。该纳米颗粒直径测量装置包括光源、凹透镜、样品池、小孔构件、滤光片、转换部和计算部，光源发出的激光在经过样品池后会变成散射光，转换部对散射光进行成像和检测，计算部采用图像对比度分析方法得到样品池中纳米颗粒的直径。因为转换部可以实现多点检测，且测量方式为后向测量，不容易受多重散射影响，所以能够直接检测高浓度的纳米颗粒直径，解决了原有动态光散射测量装置无法在高浓度下进行直接测量的问题，具有成本低廉、运算简单的优点。