首页> 中国专利> 混响室连续搅拌模式下提高电子设备辐射抗扰度测试可重复性的方法

混响室连续搅拌模式下提高电子设备辐射抗扰度测试可重复性的方法

摘要

本发明公开了一种混响室连续搅拌模式下提高电子设备辐射抗扰度测试可重复性的方法,其如下步骤:1、搭建试验平台;2、设定3~5个场强计的采样时间段,在受试设备辐射抗扰度测试中,场强计记录受试设备受到干扰时分别在3~5个采样时间段的电磁场值;3、分别对步骤2中3~5个时间段内采集到的电磁场值统计平均,对应得到3~5个统计平均值;4、分别计算步骤3中得到的3~5个统计平均值的标准偏差,选择出小于3dB的标准偏差所对应的采样时间段,采用小于3dB的标准偏差所对应的采样时间段进行混响室连续搅拌模式下提高电子设备辐射抗扰度测试。本发明的有益效果是能有效提高混响室连续搅拌模式下的电子设备辐射敏感度阈值。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-12-30

    授权

    授权

  • 2015-02-18

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/00 申请日:20141016

    实质审查的生效

  • 2015-01-21

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号