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热电离飞行时间质谱仪及热电离飞行时间质谱分析方法

摘要

本发明热电离飞行时间质谱仪及热电离飞行时间质谱分析方法,属于质谱分析技术领域,该热电离飞行时间质谱仪主要由离子源、离子传输系统和垂直反射式飞行时间质量分析器组成;使用该质谱仪,分析样品被点在离子源中固定在样品架上的灯丝带上,通过增加灯丝带电流使样品离子化,离子束经过离子传输系中的离子传输透镜组的传输与调制,到达垂直反射式飞行时间质量分析器中,不同质量的离子经过不同的飞行时间到达检测器,实现分析样品的定性、定量或同位素分析。本发明能够快速、准确测量同位素丰度并监测杂质元素,是一种创新的质谱分析技术。

著录项

  • 公开/公告号CN103268851B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-12-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 核工业北京地质研究院;

    申请/专利号CN201310188914.0

  • 申请日2013-05-21

  • 分类号H01J49/16(20060101);H01J49/40(20060101);G01N27/62(20060101);

  • 代理机构11322 北京尚诚知识产权代理有限公司;

  • 代理人鲁兵

  • 地址 100029 北京市朝阳区安外小关东里10号院

  • 入库时间 2022-08-23 09:32:55

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-12-30

    授权

    授权

  • 2013-09-25

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01J49/16 申请日:20130521

    实质审查的生效

  • 2013-08-28

    公开

    公开

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