在植物叶片微观结构中定位观察而对叶片进行处理的方法

摘要

本发明涉及一种利用大型精密仪器——透射电子显微镜在植物叶片微观结构中定位观察而对叶片进行处理的方法。其特征在于：通过新工艺制作一幅与横向切片有关联的叶片断面结构图，实现横向切片在叶片组织结构和空间结构上定位，用一套空间定位规程保障、可获取复杂微观结构叶片的全套精准定位结构图、或对某一特定部位精准定位的结构图；叶片断面结构图与横向有序定位结构图结合、还可构建微观立体结构。本发明的目的是以横向切片为基础，提出一种全新的利用透射电子显微镜观察叶片结构的样品处理、切片、定位、观察方法。此方法操作简单，可实现对叶片全部微观结构精准定位的研究，同时通过有序定位结构，探知真实微观立体结构。