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光电位置测量装置和光电位置测量方法

摘要

本发明涉及具有代码承载体(1)的光电位置测量装置,代码承载体(1)承载至少一个光学记录位置代码(2)并由来自辐射源(31)的光学辐射照射。光学辐射的至少一部分由至少一个记录元件(32)记录,由此可以生成取决于位置代码(2)的信号,并且因此可以记录代码承载体(1)相对于记录元件(32)的位置,其中代码承载体能够以一定自由度相对于记录元件(32)移动,具体地为旋转或平移。辐射源(31)和代码承载体(1)设置并设计为使得光学辐射耦合到代码承载体(1)中,并且至少部分地在位于代码承载体(1)的延伸水平中的所述代码承载体(1)的内部中的光束路径中被引导,具体地引导到位置代码(2)。在去耦合区中发生光学辐射的去耦合,使得通过大致均质的强度分布来照射记录元件(32)。

著录项

  • 公开/公告号CN102308186B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-03-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 莱卡地球系统公开股份有限公司;

    申请/专利号CN201080006496.3

  • 发明设计人 海因茨·利普纳;

    申请日2010-02-01

  • 分类号

  • 代理机构北京三友知识产权代理有限公司;

  • 代理人李辉

  • 地址 瑞士海尔博瑞格

  • 入库时间 2022-08-23 09:18:10

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-03-26

    授权

    授权

  • 2012-02-22

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01D 5/347 申请日:20100201

    实质审查的生效

  • 2012-01-04

    公开

    公开

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