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辐射度量的水平或密度测量

摘要

本发明公开了一种用于确定介质的水平或者密度的辐射度量的水平或密度测量系统,以及一种用于辐射度量地确定介质的水平或者密度的方法。根据本发明的一个实施例,通过借助光电二极管阵列检测由闪烁体产生的闪光来辐射度量地测量罐中介质的水平或者密度。计算相应的电压脉冲的总和,并且在将这些电压脉冲用于确定介质的水平或者密度之前,对这些电压脉冲的关联性进行分析。

著录项

  • 公开/公告号CN101750132B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-02-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 VEGA格里沙贝两合公司;

    申请/专利号CN200910253639.X

  • 申请日2009-12-07

  • 分类号

  • 代理机构北京集佳知识产权代理有限公司;

  • 代理人陈炜

  • 地址 德国沃尔法赫

  • 入库时间 2022-08-23 09:17:44

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-02-26

    授权

    授权

  • 2012-01-18

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01F 23/288 申请日:20091207

    实质审查的生效

  • 2010-06-23

    公开

    公开

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