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一种绕光轴旋转对准误差分析方法

摘要

本发明公开了一种绕光轴旋转对准误差分析方法。首先对初始位置处测得的面形数据进行泽尼克条纹多项式拟合,提取旋转对称项的拟合系数;然后将被测光学元件绕光轴旋转一定角度,对测得的面形数据同样进行多项式拟合并提取旋转对称项的系数,然后与旋转前的对应多项式拟合系数做差值运算并与拟合得到的阈值作对比,即可获得绕光轴旋转对准误差信息。如此反复进行多次不同旋转角度位置的对准。本发明提供了一种旋转对准误差分析方法,为绝对检测中旋转对准误差控制提供了一种定量分析方法,对减小旋转对准误差进而提高面形绝对检测精度具有较大的应用价值。

著录项

  • 公开/公告号CN102494631B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-12-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院光电技术研究所;

    申请/专利号CN201110383336.7

  • 申请日2011-11-26

  • 分类号

  • 代理机构北京科迪生专利代理有限责任公司;

  • 代理人李新华

  • 地址 610209 四川省成都市成都市双流350信箱

  • 入库时间 2022-08-23 09:16:41

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-12-04

    授权

    授权

  • 2012-07-11

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/24 申请日:20111126

    实质审查的生效

  • 2012-06-13

    公开

    公开

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