RRAM单元测试系统切换器及RRAM单元测试系统

摘要

本发明涉及一种RRAM单元测试系统切换器及一种RRAM单元测试系统，该切换器主要由双联继电器构成，双联继电器的线圈通过光电耦合器与控制信号端口连接，由其带动相应的两个双掷开关实现信号同路的选择，该切换器与两种不同的信号源及主控计算机等构成了RRAM单元测试系统，实现了对RRAM单元测试过程中两种信号源的瞬时切换，更方便、更精确地实现对RRAM单元的电学和存储性能的测试。