尺寸链校核方法、校核装置和尺寸链校核系统

摘要

本申请提供了一种尺寸链校核方法、校核装置和尺寸链校核系统，该方法包括：将尺寸链中的组成环分为多个统计环和至少一个极值环；采用统计法计算所有的统计环的校核公差，得到第一校核公差；采用极值法计算所有的极值环的校核公差，得到第二校核公差；采用第三校核公差进行尺寸链校核，第三校核公差为第一校核公差和第二校核公差之和。该方法将部分组成环采用极限法计算校核公差，另一部分组成环采用统计法计算校核公差，两个校核公差之和作为校核公差进行尺寸链校核，使得零件的尺寸精度要求不高，且不要求零件的尺寸偏差严格符合正态分布，解决了现有技术中尺寸链校核方法无法满足实际生产的需求的问题。