用于比较激光加工系统的方法和用于监控激光加工过程的方法以及所属的激光加工系统

摘要

本发明涉及一种用于比较激光加工系统的方法，其中，激光加工系统包括激光加工头和具有至少一个光电二极管的传感器模块，所述方法包括通过光电二极管探测由光源发出的辐射并且产生相应的强度信号，其中，辐射由激光加工头中的至少一个光学元件和/或由传感器模块的至少一个光学元件从光源引导至光电二极管；将激光加工头和光源相对彼此定向，使得强度信号呈现最大值；和将强度信号与至少一个预给定的参考值进行比较。此外，本发明涉及一种用于监控激光加工过程的方法和所属的激光加工系统。