公开/公告号CN114912393A
专利类型发明专利
公开/公告日2022-08-16
原文格式PDF
申请/专利权人 深圳市佳航芯电子有限公司;
申请/专利号CN202210601031.7
发明设计人 柯美延;
申请日2022-05-30
分类号G06F30/3308(2020.01);G06F30/367(2020.01);
代理机构北京冠和权律师事务所 11399;
代理人万晶晶
地址 518000 广东省深圳市福田区华强北街道福强社区华强北路1002号赛格广场4102B
入库时间 2023-06-19 16:25:24
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2022-09-02
实质审查的生效 IPC(主分类):G06F30/3308 专利申请号:2022106010317 申请日:20220530
实质审查的生效
技术领域
本发明提出了基于集成电路内部节点仿真的电路质量测试方法,属于电路检测技术领域。
背景技术
电路制造和生产过程中,电路质量测试常常是保证电路板块良品率的重要生产检测环节,然而,现有的电路测试均为随机选取电路进行固定时长运行的测试,在测试过程中选取关键电路节点的信号输出端进行测试,这种方式,常常导致测试时间与电路结构不相配导致质量测试效率较低或测试量不足导致质量监测准确率较低的问题发生。
发明内容
本发明提供了基于集成电路内部节点仿真的电路质量测试方法,用以解决现有的电路质量测试过程中,测试时间与电路结构不相配导致质量测试效率较低或测试量不足导致质量监测准确率较低的问题:
基于集成电路内部节点仿真的电路质量测试方法,所述电路质量测试方法包括:
对所述集成电路的电路原理图进行扫描,并根据集成电路的电路原理图在建立电路仿真模型;
根据所述电路仿真模型获取集成电路对应的电路检测节点,并利用所述电路检测节点获取电路质量测试参考值;
根据所述电路质量测试参考值,结合与所述电路仿真模型的电路检测节点对应的集成电路的电路节点对集成电路进行电路检测。
进一步地,根据所述电路仿真模型获取集成电路对应的电路检测节点,并利用所述电路检测节点获取电路质量测试参考值,包括:
根据电路仿真模型的电路结构,确定所述集成电路的电路检测节点,其中,所述电路检测节点包括电压检测和电流检测节点;
对电路仿真模型进行仿真电路运行,并获取每个电路检测节点对应的电流或电压数值;并利用所述电流或电压数值获取电路质量测试参考值。
进一步地,对电路仿真模型进行仿真电路运行,并获取每个电路检测节点对应的电流或电压数值;并利用所述电流或电压数值获取电路质量测试参考值,包括:
在预设仿真时间段内,对所述电路仿真模型进行实时仿真测试;
在仿真过程中,根据仿真数据的采集频率,获取所述预设仿真时间段的每个电路检测节点对应的所有采集数值;
通过所述每个电路检测节点对应的所有采集数值,通过计算获取所述电路质量测试参考值。
进一步地,通过所述每个电路检测节点对应的所有采集数值,通过计算获取所述电路质量测试参考值,包括:
根据所述每个电路检测节点对应的所有采集数值,获取每个电路检测节点对应电流或电压数值的平均值;
扫描所述每个电路检测节点对应的所有采集数值,提取所述每个电路检测节点对应的所有采集数值中的采集数值最大值和采集数值最小值,通过所述采集数值最大值和采集数值最小值以及所述每个电路检测节点对应电流或电压数值的平均值,获取电路质量测试参考值;
其中,所述电路质量测试参考值通过如下公式获取:
其中,V表示当电路检测点采样数值为电压值时,每个电路检测节点对应电压数值;I表示表示当电路检测点采样数值为电流值时,每个电路检测节点对应电流数值;V
进一步地,根据所述电路质量测试参考值,结合与所述电路仿真模型的电路检测节点对应的集成电路的电路节点对集成电路进行电路检测,包括:
结合所述电路检测节点个数,设置集成电路的电路质量检测过程中的启停次数;
根据所述启停次数结合所述电路检测节点个数设置每次集成电路启动至停止之间所持续的电路运行时间;
按照所述启停次数和每次集成电路启动至停止之间所持续的电路运行时间,反复启停运行所述集成电路;
在每次启停运行过程中,实时监测所有所述电路检测节点的实际数值是否符合所述电路质量测试参考值对应的参考值范围;
当所述集成电路按照所有启停运行次数和每次集成电路启动至停止之间所持续的电路运行时间完成所有启停运行时,如果所有所述电路检测节点的实际数值均符合所述电路质量测试参考值对应的参考值范围,则表示所述集成电路完成质量测试,达到预设的电路运行质量标准。
其中,所述集成电路的电路质量检测过程中的启停次数通过如下公式获取:
其中,N表示所述启停次数;M表示所述电路检测节点个数;M
所述集成电路的每次集成电路启动至停止之间所持续的电路运行时间通过如下公式获取:
其中,T表示每次集成电路启动至停止之间所持续的电路运行时间;C
基于集成电路内部节点仿真的电路质量测试系统,所述电路质量测试系统包括:
建模模块,用于对所述集成电路的电路原理图进行扫描,并根据集成电路的电路原理图在建立电路仿真模型;
参数值模块,用于根据所述电路仿真模型获取集成电路对应的电路检测节点,并利用所述电路检测节点获取电路质量测试参考值;
质量检测模块,用于根据所述电路质量测试参考值,结合与所述电路仿真模型的电路检测节点对应的集成电路的电路节点对集成电路进行电路检测。
进一步地,所述参数值模块包括:
节点确定模块,用于根据电路仿真模型的电路结构,确定所述集成电路的电路检测节点,其中,所述电路检测节点包括电压检测和电流检测节点;
参考值获取模块,用于对电路仿真模型进行仿真电路运行,并获取每个电路检测节点对应的电流或电压数值;并利用所述电流或电压数值获取电路质量测试参考值。
进一步地,所述参考值获取模块包括:
仿真检测模块,用于在预设仿真时间段内,对所述电路仿真模型进行实时仿真测试;
数值采集模块,用于在仿真过程中,根据仿真数据的采集频率,获取所述预设仿真时间段的每个电路检测节点对应的所有采集数值;
参考值计算模块,用于通过所述每个电路检测节点对应的所有采集数值,通过计算获取所述电路质量测试参考值。
进一步地,所述参考值计算模块包括:
平均值获取模块,用于根据所述每个电路检测节点对应的所有采集数值,获取每个电路检测节点对应电流或电压数值的平均值;
计算模块,用于扫描所述每个电路检测节点对应的所有采集数值,提取所述每个电路检测节点对应的所有采集数值中的采集数值最大值和采集数值最小值,通过所述采集数值最大值和采集数值最小值以及所述每个电路检测节点对应电流或电压数值的平均值,获取电路质量测试参考值;
其中,所述电路质量测试参考值通过如下公式获取:
其中,V表示当电路检测点采样数值为电压值时,每个电路检测节点对应电压数值;I表示表示当电路检测点采样数值为电流值时,每个电路检测节点对应电流数值;V
进一步地,所述质量检测模块包括:
启停次数获取模块,用于结合所述电路检测节点个数,设置集成电路的电路质量检测过程中的启停次数;
运行时间设置模块,用于根据所述启停次数结合所述电路检测节点个数设置每次集成电路启动至停止之间所持续的电路运行时间;
运行控制模块,用于按照所述启停次数和每次集成电路启动至停止之间所持续的电路运行时间,反复启停运行所述集成电路;
监测模块,用于在每次启停运行过程中,实时监测所有所述电路检测节点的实际数值是否符合所述电路质量测试参考值对应的参考值范围;
运行数据监测模块,用于当所述集成电路按照所有启停运行次数和每次集成电路启动至停止之间所持续的电路运行时间完成所有启停运行时,如果所有所述电路检测节点的实际数值均符合所述电路质量测试参考值对应的参考值范围,则表示所述集成电路完成质量测试,达到预设的电路运行质量标准。
其中,所述集成电路的电路质量检测过程中的启停次数通过如下公式获取:
其中,N表示所述启停次数;M表示所述电路检测节点个数;M
所述集成电路的每次集成电路启动至停止之间所持续的电路运行时间通过如下公式获取:
其中,T表示每次集成电路启动至停止之间所持续的电路运行时间;C
本发明有益效果:
本发明提出的基于集成电路内部节点仿真的电路质量测试方法和系统能够根据电路的实际结构和内部节点数量有针对性的设置运行检测时间段和启停次数,通过这种设置方式能够有效提高电路质量测试启停次数和运行时间段与电路的实际结构的匹配度;防止固定运行启停次数和运行监控时间导致结构简单的电路测试时间较长,导致测试效率降低的问题发生,同时,也有效防止固定运行启停次数和运行监控时间导致结构复杂的电路测试时间较短或不足导致质量测试结果不准确的问题发生。通过本发明提出的基于集成电路内部节点仿真的电路质量测试方法和系统能够在有效提高电路测试效率的同时,最大限度提高测试过程与电路实际结构的配合性,进而提高电路质量测试准确率和次品发现率。
附图说明
图1为本发明所述方法的流程图一;
图2为本发明所述方法的流程图二;
图3为本发明所述系统的系统框图。
具体实施方式
以下结合附图对本发明的优选实施例进行说明,应当理解,此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本发明,并不用于限定本发明。
本发明实施例提出了基于集成电路内部节点仿真的电路质量测试方法,如图1所示,所述电路质量测试方法包括:
S1、对所述集成电路的电路原理图进行扫描,并根据集成电路的电路原理图在建立电路仿真模型;
S2、根据所述电路仿真模型获取集成电路对应的电路检测节点,并利用所述电路检测节点获取电路质量测试参考值;
S3、根据所述电路质量测试参考值,结合与所述电路仿真模型的电路检测节点对应的集成电路的电路节点对集成电路进行电路检测。
上述技术方案的工作原理为:首先,对所述集成电路的电路原理图进行扫描,并根据集成电路的电路原理图在建立电路仿真模型;然后,根据所述电路仿真模型获取集成电路对应的电路检测节点,并利用所述电路检测节点获取电路质量测试参考值;最后,根据所述电路质量测试参考值,结合与所述电路仿真模型的电路检测节点对应的集成电路的电路节点对集成电路进行电路检测。
上述技术方案的效果为:本实施例提出的基于集成电路内部节点仿真的电路质量测试方法能够根据电路的实际结构和内部节点数量有针对性的设置运行检测时间段和启停次数,通过这种设置方式能够有效提高电路质量测试启停次数和运行时间段与电路的实际结构的匹配度;防止固定运行启停次数和运行监控时间导致结构简单的电路测试时间较长,导致测试效率降低的问题发生,同时,也有效防止固定运行启停次数和运行监控时间导致结构复杂的电路测试时间较短或不足导致质量测试结果不准确的问题发生。通过本发明提出的基于集成电路内部节点仿真的电路质量测试方法能够在有效提高电路测试效率的同时,最大限度提高测试过程与电路实际结构的配合性,进而提高电路质量测试准确率和次品发现率。
本发明的一个实施例,如图2所示,根据所述电路仿真模型获取集成电路对应的电路检测节点,并利用所述电路检测节点获取电路质量测试参考值,包括:
S201、根据电路仿真模型的电路结构,确定所述集成电路的电路检测节点,其中,所述电路检测节点包括电压检测和电流检测节点;
S202、对电路仿真模型进行仿真电路运行,并获取每个电路检测节点对应的电流或电压数值;并利用所述电流或电压数值获取电路质量测试参考值。
其中,对电路仿真模型进行仿真电路运行,并获取每个电路检测节点对应的电流或电压数值;并利用所述电流或电压数值获取电路质量测试参考值,包括:
S2021、在预设仿真时间段内,对所述电路仿真模型进行实时仿真测试;
S2022、在仿真过程中,根据仿真数据的采集频率,获取所述预设仿真时间段的每个电路检测节点对应的所有采集数值;
S2023、通过所述每个电路检测节点对应的所有采集数值,通过计算获取所述电路质量测试参考值。
具体的,通过所述每个电路检测节点对应的所有采集数值,通过计算获取所述电路质量测试参考值,包括:
步骤1、根据所述每个电路检测节点对应的所有采集数值,获取每个电路检测节点对应电流或电压数值的平均值;
步骤2、扫描所述每个电路检测节点对应的所有采集数值,提取所述每个电路检测节点对应的所有采集数值中的采集数值最大值和采集数值最小值,通过所述采集数值最大值和采集数值最小值以及所述每个电路检测节点对应电流或电压数值的平均值,获取电路质量测试参考值;
其中,所述电路质量测试参考值通过如下公式获取:
其中,V表示当电路检测点采样数值为电压值时,每个电路检测节点对应电压数值;I表示表示当电路检测点采样数值为电流值时,每个电路检测节点对应电流数值;V
上述技术方案的效果为:通过上述方式和公式获取的电路质量测试参考值能够根据电路仿真情况进行电路质量测试参考值设置,有效提高电路质量测试参考值范围的准确性。进而提高电路质量测试的准确性。
本发明的一个实施例,根据所述电路质量测试参考值,结合与所述电路仿真模型的电路检测节点对应的集成电路的电路节点对集成电路进行电路检测,包括:
S301、结合所述电路检测节点个数,设置集成电路的电路质量检测过程中的启停次数;
S302、根据所述启停次数结合所述电路检测节点个数设置每次集成电路启动至停止之间所持续的电路运行时间;
S303、按照所述启停次数和每次集成电路启动至停止之间所持续的电路运行时间,反复启停运行所述集成电路;
S304、在每次启停运行过程中,实时监测所有所述电路检测节点的实际数值是否符合所述电路质量测试参考值对应的参考值范围;
S305、当所述集成电路按照所有启停运行次数和每次集成电路启动至停止之间所持续的电路运行时间完成所有启停运行时,如果所有所述电路检测节点的实际数值均符合所述电路质量测试参考值对应的参考值范围,则表示所述集成电路完成质量测试,达到预设的电路运行质量标准。
其中,所述集成电路的电路质量检测过程中的启停次数通过如下公式获取:
其中,N表示所述启停次数;M表示所述电路检测节点个数;M
所述集成电路的每次集成电路启动至停止之间所持续的电路运行时间通过如下公式获取:
其中,T表示每次集成电路启动至停止之间所持续的电路运行时间;C
上述技术方案的工作原理为:首先,结合所述电路检测节点个数,设置集成电路的电路质量检测过程中的启停次数;根据所述启停次数结合所述电路检测节点个数设置每次集成电路启动至停止之间所持续的电路运行时间;然后,按照所述启停次数和每次集成电路启动至停止之间所持续的电路运行时间,反复启停运行所述集成电路;最后,在每次启停运行过程中,实时监测所有所述电路检测节点的实际数值是否符合所述电路质量测试参考值对应的参考值范围;当所述集成电路按照所有启停运行次数和每次集成电路启动至停止之间所持续的电路运行时间完成所有启停运行时,如果所有所述电路检测节点的实际数值均符合所述电路质量测试参考值对应的参考值范围,则表示所述集成电路完成质量测试,达到预设的电路运行质量标准。
上述技术方案的效果为:本实施例提出的基于集成电路内部节点仿真的电路质量测试方法能够根据电路的实际结构和内部节点数量有针对性的设置运行检测时间段和启停次数,通过这种设置方式能够有效提高电路质量测试启停次数和运行时间段与电路的实际结构的匹配度;防止固定运行启停次数和运行监控时间导致结构简单的电路测试时间较长,导致测试效率降低的问题发生,同时,也有效防止固定运行启停次数和运行监控时间导致结构复杂的电路测试时间较短或不足导致质量测试结果不准确的问题发生。通过本发明提出的基于集成电路内部节点仿真的电路质量测试方法能够在有效提高电路测试效率的同时,最大限度提高测试过程与电路实际结构的配合性,进而提高电路质量测试准确率和次品发现率。
另一方面,通过上述公式获取的启停次数和所述集成电路的每次集成电路启动至停止之间所持续的电路运行时间能够获得与所述电路检测节点数量和电路结构最佳匹配度的启停次数和运行时间段,进而最大限度提高启停次数和运行时间段与电路结构的匹配性。同时,通过上述公式获取的运行时间段能够保证每相邻的两次启停之间的电路运行时间不同,进而提高电路测试过程的多变性和运行状况复杂性,进而最大限度提高次品发现率。
本发明实施例提出了基于集成电路内部节点仿真的电路质量测试系统,如图3所示,所述电路质量测试系统包括:
建模模块,用于对所述集成电路的电路原理图进行扫描,并根据集成电路的电路原理图在建立电路仿真模型;
参数值模块,用于根据所述电路仿真模型获取集成电路对应的电路检测节点,并利用所述电路检测节点获取电路质量测试参考值;
质量检测模块,用于根据所述电路质量测试参考值,结合与所述电路仿真模型的电路检测节点对应的集成电路的电路节点对集成电路进行电路检测。
上述技术方案的工作原理为:首先,通过建模模块对所述集成电路的电路原理图进行扫描,并根据集成电路的电路原理图在建立电路仿真模型;然后,利用参数值模块根据所述电路仿真模型获取集成电路对应的电路检测节点,并利用所述电路检测节点获取电路质量测试参考值;最后,采用质量检测模块根据所述电路质量测试参考值,结合与所述电路仿真模型的电路检测节点对应的集成电路的电路节点对集成电路进行电路检测。
上述技术方案的效果为:本实施例提出的基于集成电路内部节点仿真的电路质量测试系统能够根据电路的实际结构和内部节点数量有针对性的设置运行检测时间段和启停次数,通过这种设置方式能够有效提高电路质量测试启停次数和运行时间段与电路的实际结构的匹配度;防止固定运行启停次数和运行监控时间导致结构简单的电路测试时间较长,导致测试效率降低的问题发生,同时,也有效防止固定运行启停次数和运行监控时间导致结构复杂的电路测试时间较短或不足导致质量测试结果不准确的问题发生。通过本发明提出的基于集成电路内部节点仿真的电路质量测试系统能够在有效提高电路测试效率的同时,最大限度提高测试过程与电路实际结构的配合性,进而提高电路质量测试准确率和次品发现率。
本发明的一个实施例,所述参数值模块包括:
节点确定模块,用于根据电路仿真模型的电路结构,确定所述集成电路的电路检测节点,其中,所述电路检测节点包括电压检测和电流检测节点;
参考值获取模块,用于对电路仿真模型进行仿真电路运行,并获取每个电路检测节点对应的电流或电压数值;并利用所述电流或电压数值获取电路质量测试参考值。
其中,所述参考值获取模块包括:
仿真检测模块,用于在预设仿真时间段内,对所述电路仿真模型进行实时仿真测试;
数值采集模块,用于在仿真过程中,根据仿真数据的采集频率,获取所述预设仿真时间段的每个电路检测节点对应的所有采集数值;
参考值计算模块,用于通过所述每个电路检测节点对应的所有采集数值,通过计算获取所述电路质量测试参考值。
具体的,所述参考值计算模块包括:
平均值获取模块,用于根据所述每个电路检测节点对应的所有采集数值,获取每个电路检测节点对应电流或电压数值的平均值;
计算模块,用于扫描所述每个电路检测节点对应的所有采集数值,提取所述每个电路检测节点对应的所有采集数值中的采集数值最大值和采集数值最小值,通过所述采集数值最大值和采集数值最小值以及所述每个电路检测节点对应电流或电压数值的平均值,获取电路质量测试参考值;
其中,所述电路质量测试参考值通过如下公式获取:
其中,V表示当电路检测点采样数值为电压值时,每个电路检测节点对应电压数值;I表示表示当电路检测点采样数值为电流值时,每个电路检测节点对应电流数值;V
上述技术方案的效果为:通过上述方式和公式获取的电路质量测试参考值能够根据电路仿真情况进行电路质量测试参考值设置,有效提高电路质量测试参考值范围的准确性。进而提高电路质量测试的准确性。
本发明的一个实施例,所述质量检测模块包括:
启停次数获取模块,用于结合所述电路检测节点个数,设置集成电路的电路质量检测过程中的启停次数;
运行时间设置模块,用于根据所述启停次数结合所述电路检测节点个数设置每次集成电路启动至停止之间所持续的电路运行时间;
运行控制模块,用于按照所述启停次数和每次集成电路启动至停止之间所持续的电路运行时间,反复启停运行所述集成电路;
监测模块,用于在每次启停运行过程中,实时监测所有所述电路检测节点的实际数值是否符合所述电路质量测试参考值对应的参考值范围;
运行数据监测模块,用于当所述集成电路按照所有启停运行次数和每次集成电路启动至停止之间所持续的电路运行时间完成所有启停运行时,如果所有所述电路检测节点的实际数值均符合所述电路质量测试参考值对应的参考值范围,则表示所述集成电路完成质量测试,达到预设的电路运行质量标准。
其中,所述集成电路的电路质量检测过程中的启停次数通过如下公式获取:
其中,N表示所述启停次数;M表示所述电路检测节点个数;M
所述集成电路的每次集成电路启动至停止之间所持续的电路运行时间通过如下公式获取:
其中,T表示每次集成电路启动至停止之间所持续的电路运行时间;C
上述技术方案的工作原理为:首先,采用启停次数获取模块结合所述电路检测节点个数,设置集成电路的电路质量检测过程中的启停次数;然后,利用运行时间设置模块根据所述启停次数结合所述电路检测节点个数设置每次集成电路启动至停止之间所持续的电路运行时间;通过运行控制模块按照所述启停次数和每次集成电路启动至停止之间所持续的电路运行时间,反复启停运行所述集成电路;之后,采用监测模块在每次启停运行过程中,实时监测所有所述电路检测节点的实际数值是否符合所述电路质量测试参考值对应的参考值范围;最后,通过运行数据监测模块在当所述集成电路按照所有启停运行次数和每次集成电路启动至停止之间所持续的电路运行时间完成所有启停运行时,如果所有所述电路检测节点的实际数值均符合所述电路质量测试参考值对应的参考值范围,则表示所述集成电路完成质量测试,达到预设的电路运行质量标准。
上述技术方案的效果为:本实施例提出的基于集成电路内部节点仿真的电路质量测试系统能够根据电路的实际结构和内部节点数量有针对性的设置运行检测时间段和启停次数,通过这种设置方式能够有效提高电路质量测试启停次数和运行时间段与电路的实际结构的匹配度;防止固定运行启停次数和运行监控时间导致结构简单的电路测试时间较长,导致测试效率降低的问题发生,同时,也有效防止固定运行启停次数和运行监控时间导致结构复杂的电路测试时间较短或不足导致质量测试结果不准确的问题发生。通过本发明提出的基于集成电路内部节点仿真的电路质量测试系统能够在有效提高电路测试效率的同时,最大限度提高测试过程与电路实际结构的配合性,进而提高电路质量测试准确率和次品发现率。
另一方面,通过上述公式获取的启停次数和所述集成电路的每次集成电路启动至停止之间所持续的电路运行时间能够获得与所述电路检测节点数量和电路结构最佳匹配度的启停次数和运行时间段,进而最大限度提高启停次数和运行时间段与电路结构的匹配性。同时,通过上述公式获取的运行时间段能够保证每相邻的两次启停之间的电路运行时间不同,进而提高电路测试过程的多变性和运行状况复杂性,进而最大限度提高次品发现率。
显然,本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样,倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内,则本发明也意图包含这些改动和变型在内。
机译: 专用集成电路的内部存储器(专用集成电路)及内部存储器的测试方法
机译: 集成电路仿真模式下的内部电路和使用该集成电路的无绳电话
机译: 能够探测正在进行仿真的电路设计中内部节点的硬件逻辑仿真系统