一种用于通讯类电子产品的自动测试系统

摘要

本发明公开了一种用于通讯类电子产品的自动测试系统。属于测试系统技术领域；其包括九个系统模块和三个辅助数据库。9个模块包括：参数配置模块，设备初始化模块，存储配置模块，测试仪器初始化模块，指标测试模块，合格判定模块，实时显示模块，数据存储及记录模块以及数据记录查询模块。3个辅助数据库包括：配置文件库、程控指令库、文档模板库。本发明的优势在于：具备通用性、综合性、易调整性，测试人员无需学习具体的测试步骤，只需根据平台的界面提示做简单操作即可完成指标测试及数据记录任务，大大提高了工作效率，减少了繁琐手动操作导致人为失误而引起的测试过程中的漏测、错测等问题。

说明书

技术领域

本发明涉及到测试系统技术领域，特别涉及一种用于通讯类电子产品的自动测试系统。

背景技术

自动测试系统是指在人不参与或极少参与的情况下，自动控制设备一起对电子产品在各种条件下进行各项功能和指标的测试。目前，自动测试系统已经被广泛应用于手机通信、变电站测控、电动汽车电机装调等国民经济重要领域。随着电子科技的快速发展，通讯类电子设备愈发呈现多功能化，并且更新换代速度也越来越快。因此在许多电子产品生产企业，通讯类电子产品测试任务呈现多品种小批量的订单式特点，并且生产计划紧迫。专用的自动测试系统开发速度及应用程度远远达不到通讯类电子设备测试任务的交付要求。

经过调研及查阅大量文献可以发现，通讯类电子产品的自动测试系统目前主要存在以下问题：

1、自动测试系统通用性较弱、不易调整；

2、系统不具备模块化，操作繁琐且验证次数多。

发明内容

针对上述背景技术中存在的问题，本发明提出一种用于通讯类电子产品的自动测试系统。该系统具有通用性、综合性、易被调整的特性，并且能够自动完成需要频繁反复进行的通信类技术指标配置和测试。

为了实现上述目的，本发明所采取的技术方案为：

一种用于通讯类电子产品的自动测试系统，包括9个模块和3个辅助数据库；其中9个模块分别为参数配置模块11，存储配置模块21，设备初始化模块22，测试仪器初始化模块31，指标测试模块32，合格判定模块33，实时显示模块41，数据存储及记录模块34以及数据记录查询模块42；3个辅助数据库分别为配置文件库51、程控指令库52和文档模板库53；

参数配置模块11接收外部参数信息，外部参数信息包括待测试电子产品信息、仪器信息、串口/网口信息和测试参数信息；在参数配置模块11中选取需要测试的指标名称及相关执行项，也可对已有的参数信息进行修改；

存储配置模块21获取参数配置模块11中的所有参数信息，通过对接配置文件库51存储新填写或修改后的参数信息，避免相同信息重复填写；若出现错误的配置信息时弹出错误提示，并装入配置文件库51中的默认参数信息；

设备初始化模块22获取存储配置模块21中的待测试电子产品信息，并建立上位机与待测试电子产品的通信；

测试仪器初始化模块31接收存储配置模块22传递的仪器设备信息，配置仪器设备的初始化参数，并建立上位机与测试仪器的通信；

指标测试模块32接收存储配置模块21传递的测试参数信息，通过对接程控指令库52获取产品指标测试方法及合格判定标准；由上位机向仪器设备发送程控指令，读取相关数据并计算，对待测试产品进行测试，测试任意一个或几个指标；

合格判定模块33接收存储配置模块22传递的合格判定标准，同时接收指标测试模块32传递的测试数据，对测试结果进行合格判定；

实时显示模块41接收指标测试模块32传递的测试数据以及合格判定模块33传递的判定结果，并将测试数据与合格判定结果实时显示在系统界面；

数据存储及记录模块34接收存储配置模块22传递的待测试产品信息，接收指标测试模块32传递的测试数据信息，同时接收合格判定模块33传递的判定结果，通过对接文档模板库53获取待测试产品指定的测试记录表以及维修记录表；之后将合格的测试数据信息写入测试记录表中；将包含测试不合格项及其测试数据信息写入维修记录表中；

数据记录查询模块42对接数据存储及记录模块34，用于查看测试数据记录卡、维修记录卡；

具体的实现过程为：首先操作人员启动自动测试系统，对于新产品，操作人员进入参数配置模块，填写待测试电子产品信息、仪器信息、串口/网口信息、测试参数信息；若是之前已经测试过的产品，则直接进入存储配置模块，从存储配置模块中查询并选取参数配置信息，同时选择测试指标，可进行更改编辑；参数配置完成之后，在设备初始化模块中，获取在存储配置模块中新建或编辑的待测试电子产品信息，建立上位机与待测试电子产品的通信；之后进入测试仪器初始化模块，获取在存储配置模块中新建或编辑的仪器设备信息，建立上位机与仪器设备的通信；在指标测试模块中，根据操作人员在存储配置模块中选取的测试指标控制测试仪器设备对待测试产品进行测试，将测试数据传递给合格判定模块中进行判断是否合格，将测试数据和判断结果同时显示在实时显示模块；系统启用数据存储及记录模块，将合格的测试数据信息写入测试记录表中；将包含测试不合格项及其测试数据信息写入维修记录表中最后可由操作人员自行选择是否在数据记录查询模块中查询相关测试记录。

进一步的，测试仪器设备与上位机通信用通用接口总线卡。

进一步的，采用事件机制协调控制各模块的运行，在各模块完成各自的功能后返回到主界面，等待操作人员进行下一步的操作。

本发明采取上述技术方案所产生的有益效果在于：

与现有技术相比，本发明的有益效果在于具备通用性、综合性、易调整性，可实现对多种通讯类电子产品的指标进行自动测试。测试人员无需学习具体的测试步骤，只需根据平台的界面提示做简单操作即可完成指标测试及数据记录任务，大大提高了工作效率，减少了繁琐手动操作导致人为失误而引起的测试过程中的漏测、错测等问题。此外，测试人员可灵活选择不同型号的仪器进行自动测试，减少了仪器不足带来的测试任务延误，提高了仪器的利用率。

附图说明

图1为本发明的一种用于通讯类电子产品的自动测试系统的模块关系图；

图2为本发明的一种用于通讯类电子产品的自动测试系统的实施流程。

11：参数配置模块；21：存储配置模块；22：设备初始化模块；31：测试仪器初始化模块；32：指标测试模块；33：合格判定模块；34：数据存储及记录模块；41：实时显示模块；42：数据记录查询模块；51：配置文件库；52：程控指令库；53：文档模板库。

具体实施方式

下面，结合附图和具体实施方式对本发明做进一步的说明。

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

一种用于通讯类电子产品的自动测试系统，包括九个系统模块和三个辅助数据库。9个模块包括：参数配置模块11，存储配置模块21，设备初始化模块22，测试仪器初始化模块31，指标测试模块32，合格判定模块33，实时显示模块41，数据存储及记录模块34以及数据记录查询模块42。3个辅助数据库包括：配置文件库51、程控指令库52、文档模板库53。

参照图1，参数配置模块11接收外部参数信息，主要包括待测试电子产品信息、仪器信息、串口/网口信息、测试参数信息。在该模块中选取需要测试的指标名称及相关执行项，也可对已有参数信息进行修改；

存储配置模块21获取参数配置模块11中的所有参数信息，通过对接配置文件库51存储新填写或修改后的参数信息，避免相同信息重复填写。若出现错误的配置信息时弹出错误提示，并自动装入配置文件库51中的默认参数信息；

设备初始化模块22获取存储配置模块21中的待测试电子产品信息，并建立上位机与待测试电子产品的通信；

测试仪器初始化模块31接收存储配置模块22传递的仪器设备信息，自动配置仪器设备的初始化参数，并建立上位机与测试仪器的通信；

指标测试模块32接收存储配置模块22传递的测试参数信息，通过对接程控指令库52获取产品指标测试方法及合格判定标准；由上位机向仪器设备发送程控指令，读取相关数据并计算，自动对待测试产品进行测试，测试任意一个或几个指标；

合格判定模块33接收存储配置模块22传递的合格判定标准，同时接收指标测试模块32传递的测试数据，对测试结果进行合格判定；

实时显示模块41接收指标测试模块32传递的测试数据以及合格判定模块33传递的判定结果，并将测试数据与合格判定结果实时显示在系统界面；

数据存储及记录模块接34收存储配置模块22传递的待测试产品信息，接收指标测试模块32传递的测试数据信息，同时接收合格判定模块33传递的判定结果，通过对接文档模板库53获取待测试产品指定的测试记录表以及维修记录表；之后将合格的测试数据信息写入测试记录表中；将包含测试不合格项及其测试数据信息写入维修记录表中；

数据记录查询模块42对接数据存储及记录模块34，用于查看测试数据记录卡、维修记录卡。

进一步的，上位机要求：1、CPU：2.0GHZ及以上；2、内存：256M及以上；3、硬盘：40G及以上；4、网卡：10/100M；5、显卡：1024×768以上分辨率，4M以上显存；

进一步的，系统平台要求Windows XP Professional或WIN7版本；

进一步的，测试仪器设备与上位机通信用通用接口总线卡；

进一步的，本系统采用事件机制协调控制各模块的运行，在各模块完成各自的功能后返回到主界面，等待操作人员进行下一步的操作。

图2为本发明提供的一种用于通讯类电子产品的自动测试系统的实施过程：

首先操作人员启动自动测试系统，对于新产品，操作人员进入“参数配置模块”，填写待测试电子产品信息、仪器信息、串口/网口信息、测试参数信息；若是之前已经测试过的产品，则直接进入“存储配置模块”，从“存储配置模块”中查询并选取参数配置信息，选取测试指标，可进行更改编辑。参数配置完成之后，在“设备初始化模块”中，系统自动获取在“存储配置模块”中新建或编辑的待测试电子产品信息，建立上位机与待测试电子产品的通信；之后进入“测试仪器初始化模块”，系统自动获取在“存储配置模块”中新建或编辑的仪器设备信息，建立上位机与仪器设备的通信。操作人员在“指标测试模块”中，根据操作人员在存储配置模块中选取的测试指标控制测试仪器设备对待测试产品进行自动测试，将测试数据传递给“合格判定模块”中进行判断是否合格，将测试数据和判断结果同时显示在“实时显示模块”。系统会自动启用“数据存储及记录模块”，将合格的测试数据信息写入测试记录表中；将包含测试不合格项及其测试数据信息写入维修记录表中。最后可由操作人员自行选择是否在“数据记录查询模块”中查询相关测试记录。

以上所述仅为本发明的个别实施例，但本发明并不限于这些实施例。熟悉本领域的技术人员在不违背本发明的精神和原则的前提下，还可做出各种等同的变型或替换，这些等同的变型或替换均包含在本发明权利要求书所限定的保护范围之内。