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用于处理由暗场和/或相衬X射线成像系统采集的数据的装置

摘要

本发明涉及一种用于处理由暗场和/或相衬X射线成像系统采集的数据的装置(10),所述装置包括输入单元(20)以及处理单元(30)。所述输入单元被配置为向所述处理单元提供由包括干涉测量装置和探测器的暗场和/或相衬X射线成像系统采集的空白扫描条纹数据。所述输入单元被配置为向所述处理单元提供由所述暗场和/或相衬X射线成像系统采集的样本扫描条纹数据,其中,要成像的对象被定位于所述暗场和/或相衬X射线成像系统内。所述处理单元被配置为预处理所述空白扫描条纹数据以确定经预处理的空白扫描条纹数据,包括对有效点扩散函数“PSF”的利用。所述处理单元被配置为预处理所述样本扫描条纹数据以确定经预处理的样本扫描条纹数据,包括对所述有效点扩散函数“PSF”的利用。所述有效PSF已经针对所述暗场和/或相衬X射线成像系统被确定。

著录项

  • 公开/公告号CN114650774A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-06-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 皇家飞利浦有限公司;

    申请/专利号CN202180005006.6

  • 申请日2021-05-26

  • 分类号A61B6/00;

  • 代理机构永新专利商标代理有限公司;

  • 代理人孟杰雄

  • 地址 荷兰艾恩德霍芬

  • 入库时间 2023-06-19 15:43:06

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-06-21

    公开

    国际专利申请公布

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