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一种用于PAD测试点的测试电路

摘要

本发明属于模拟集成电路技术领域,具体的说是涉及一种用于PAD测试点的测试电路。本发明通过电路设计并结合layout上一极小pad,同时配合电路内部逻辑信号,可以实现预修调的作用,通过该信号可以获得真实的最小修调步距,即一位lsb,从而可以在极大简化系统测试流程的同时提高测试效率和精度。本发明可以降低电路结构难度的同时提高测试效率,简化测试流程,具有极强的实用性。

著录项

  • 公开/公告号CN114280464A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-04-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海南芯半导体科技股份有限公司;

    申请/专利号CN202210002719.3

  • 发明设计人 王佳煜;李芝友;

    申请日2022-01-04

  • 分类号G01R31/28(20060101);

  • 代理机构51232 成都点睛专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人孙一峰

  • 地址 200120 上海市浦东新区晨晖路1000号214室

  • 入库时间 2023-06-19 14:46:52

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-04-05

    公开

    发明专利申请公布

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