首页> 中国专利> 一种半导体激光器用COS光斑扎测装置及扎测方法

一种半导体激光器用COS光斑扎测装置及扎测方法

摘要

本发明涉及一种半导体激光器用COS光斑扎测装置及扎测方法,属于激光器材料技术领域,包括基架,基架中设有热沉底座,基架一侧设有扎测针,扎测针两侧设有摄像头和收光板;热沉底座上设有待扎测的带芯片热沉,带芯片热沉包括横梁架、热沉块和芯片,横梁架上排列设置热沉块,热沉块顶部放置芯片,热沉底座沿基架竖向运动。本发明弥补了关于COS光斑自动扎测的空白,解决了手动模式下一人只能用一台设备的问题,节约大量的人工,而且通过设备高清CCD摄像头分档,提高了产COS光斑扎测的一致性。

著录项

  • 公开/公告号CN114264450A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-04-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 山东华光光电子股份有限公司;

    申请/专利号CN202010973105.0

  • 发明设计人 贾旭涛;赵克宁;刘琦;明文波;

    申请日2020-09-16

  • 分类号G01M11/02(20060101);

  • 代理机构37219 济南金迪知识产权代理有限公司;

  • 代理人王楠

  • 地址 250101 山东省济南市历下区高新区天辰大街1835号

  • 入库时间 2023-06-19 14:43:46

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-04-01

    公开

    发明专利申请公布

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号