一种解析的双波长相位解耦方法

摘要

本发明涉及相干衍射成像，具体涉及一种解析的双波长相位解耦方法，用于解决现有相位解耦方法或是由于扫描技术导致测量系统的复杂性增加和测量速度降低，或是由于灌注技术导致样品的原始状态被破坏的不足之处。该解析的双波长相位解耦方法不再使用扫描技术或者灌注技术，而是使用成像探测器记录不同波长下的衍射图像的强度信息，通过设计算法求解高阶方程组，从而获得了样品的折射率分布和厚度分布。