公开/公告号CN114047537A
专利类型发明专利
公开/公告日2022-02-15
原文格式PDF
申请/专利权人 中测测试科技有限公司;
申请/专利号CN202111371667.9
申请日2021-11-18
分类号G01T1/00(20060101);G01T1/02(20060101);G01T1/16(20060101);G01T1/18(20060101);G01T1/20(20060101);G01T1/202(20060101);G01T1/24(20060101);G01T1/36(20060101);
代理机构51284 成都禾创知家知识产权代理有限公司;
代理人刘凯
地址 610056 四川省成都市成华区玉双路10号
入库时间 2023-06-19 14:12:50
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2022-02-15
公开
发明专利申请公布
机译: 半导体芯片测试方法具有在执行测试模式之前通过证明模式读出的已启动测试模式的测试模式状态
机译: 基于最优测量模式的放射性测量系统以及使用该测量方法测量放射性的方法,能够根据与辐射污染的位置有关的模式,为人体内部的放射性提供测量值
机译: 通过基于汇编程序测试程序的目标代码生成存储器测试模式来测试嵌入在包括微处理器在内的集成电路芯片中的存储器