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基于前端读出芯片的测试平台系统与多模式辐射测量方法

摘要

本发明公开了一种基于前端读出芯片的测试平台系统与多模式辐射测量方法,利用前端读出专用集成芯片的多通道技术,结合成形时间和阈值电压程序可控设计,建立四通道专用测试平台系统,每通道包括电荷灵敏放大器、极零相消、有源滤波器、反向放大器、缓存器、DAC、IIC和移位寄存器数字控制电路;灵活匹配Si‑PIN、PIPS、CdZnTe、正比计数器等核辐射探测器,实现多种探测器和多种射线的剂量和能谱方面的多模式核辐射测量,如匹配Si‑PIN探测器可进行X/γ、β、n个人剂量测量,匹配PIPS探测器可进行X、β符合测量以及利用CdZnTe探测器和正比计数器可进行能谱分析测量、空气比释动能和周围剂量当量测量,且测量精度高,可靠性强,设备集成度高,体积空间小,便于测量仪器小型化。

著录项

  • 公开/公告号CN114047537A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-02-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中测测试科技有限公司;

    申请/专利号CN202111371667.9

  • 发明设计人 黄平;龚岚;黄秋;林滔;

    申请日2021-11-18

  • 分类号G01T1/00(20060101);G01T1/02(20060101);G01T1/16(20060101);G01T1/18(20060101);G01T1/20(20060101);G01T1/202(20060101);G01T1/24(20060101);G01T1/36(20060101);

  • 代理机构51284 成都禾创知家知识产权代理有限公司;

  • 代理人刘凯

  • 地址 610056 四川省成都市成华区玉双路10号

  • 入库时间 2023-06-19 14:12:50

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-02-15

    公开

    发明专利申请公布

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