一种介质空间中天线性能评估方法、装置及电子设备

摘要

本申请提供了一种介质空间中天线性能评估方法、装置及电子设备，涉及天线测试技术领域，包括：获取待测天线所在第一介质空间的电磁参数；根据第一介质空间的电磁参数，利用电磁相似条件，匹配一个与第一介质空间具有电磁相似的第二介质空间以及相似天线；获取在第二介质空间中测试得到的相似天线的天线参数；利用电磁相似问题的对应关系，基于相似天线的天线参数，得到第一介质空间中待测天线的天线参数。本申请能够解决对介质空间内部天线难以进行性能评估的技术问题。