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基于格林函数双调和样条插值热辐射效应校正方法及装置

摘要

本发明涉及一种基于格林函数双调和样条插值热辐射效应校正方法及装置,其包括:获取气动光学热辐射退化图像,并对热辐射退化图像进行滤波处理,得到热辐射低频图像;对热辐射低频图像进行降采样处理,获取降采样图像中的采样点。对采样点使用基于格林函数双调和样条插值法拟合出插值曲面;将插值曲面输入预先建立的图像校正模型中,并使用交替迭代最小法求解出清晰图像及热辐射效应偏置场。本发明的方法算法运行速度较快,迭代次数相对较少,能够对热辐射退化图像进行有效的校正。

著录项

  • 公开/公告号CN114022398A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-02-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 武汉工程大学;

    申请/专利号CN202210013824.7

  • 申请日2022-01-07

  • 分类号G06T5/00(20060101);G06T5/20(20060101);G06T3/40(20060101);

  • 代理机构42231 武汉智嘉联合知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人黄君军

  • 地址 430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷一路206号

  • 入库时间 2023-06-19 14:08:07

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-02-08

    公开

    发明专利申请公布

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