首页> 中国专利> 用于使用光腔衰荡光谱分析样品的方法和系统以及用于生成预测模型的方法

用于使用光腔衰荡光谱分析样品的方法和系统以及用于生成预测模型的方法

摘要

本公开公开了使用光腔衰荡光谱分析样品以及生成预测模型的方法和系统。将样品的至少一部分装载在衰荡腔中。对于一组波长中的每一个,生成激光束并将其引导到衰荡腔中。消除进入衰荡腔的激光束。经由光强度传感器系统记录针对离开衰荡腔的光的光强度衰减数据。至少间接地使用针对先前分析的样品的光强度衰减数据的数据集,从针对所述组波长的光强度衰减数据确定从其接收了样品的受试者具有生理病症或生理病症的程度的概率,其中已针对先前分析的样品识别了生理病症的存在或不存在或者生理病症的程度。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-03-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/25 专利申请号:2020800400525 申请日:20200226

    实质审查的生效

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号