基于CNN和SVM的劣质芯片识别方法及系统

摘要

本发明公开了基于CNN和SVM的劣质芯片识别方法及系统，属于人工智能领域，本发明要解决的技术问题为如何利用人工智能实现劣质芯片的自动识别，提高芯片检测效率的同时，降低芯片检测成本，采用的技术方案为：利用深度学习中的支持向量机分类器，通过原厂芯片的若干差异参数作为正样例数据，构建、训练并测试处劣质芯片分类器；利用卷积神经网络提取出劣质芯片的图片特征，通过劣质芯片的图片特征构建、训练并测试劣质芯片检测模型；将劣质芯片分类器嵌入进劣质芯片检测模型中构建劣质芯片双重检测模型；将劣质芯片双重检测模型嵌入到树莓派中，树莓派嵌入劣质芯片检测装置中。