一种X射线屏蔽材料的屏蔽性能测试方法

摘要

本发明公开了一种X射线屏蔽材料的屏蔽性能测试方法，属于屏蔽材料性能测试技术领域，该方法为：使用医院X线摄影(DR)设备对X射线屏蔽材料和不同厚度铅板进行照射并得到影像图，分析对比影像图中X射线屏蔽材料和铅板的白度，两者相比得到等于或稍大于1的值说明X射线屏蔽材料能够达到与铅板相同的屏蔽效果，此时铅板的厚度等于X射线屏蔽材料的铅当量。该测试方法利用现有设备进行测试，简单方便，能够快速进行X射线屏蔽材料的屏蔽性能鉴定，有利于实验的推进和研究。