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基于共有平场提取的高光谱显微图像平场校正方法及系统

摘要

基于共有平场提取的高光谱显微图像平场校正方法及系统,涉及图像平场校正领域。本发明是为了解决目前还无法提取出共有的光照平场项用于校正高光谱显微系统中从而解决癌细胞组织高光谱显微图像存在的光照不均匀的问题,进而导致的癌细胞的组织病理分类精度较低的问题。所述方法包括:采集高光谱显微图像,并将图像分为训练集和测试集;对CFE模型训练获得训练好的CFE模型;对训练好的CFE模型进行求解得到共有平场和校正后的高光谱显微图像;利用测试集对共有平场进行评分,根据评分获得平场项的共有秩,获得最优CFE模型;将待测的高光谱显微图像输入到最优CFE模型中获得平场校正后的高光谱显微图像。本发明用于对癌细胞组织高光谱显微图像进行平场校正。

著录项

  • 公开/公告号CN113658069A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-11-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 哈尔滨工业大学;

    申请/专利号CN202110930502.4

  • 发明设计人 谷延锋;王煜坤;

    申请日2021-08-13

  • 分类号G06T5/00(20060101);G06T7/00(20170101);

  • 代理机构23213 哈尔滨华夏松花江知识产权代理有限公司;

  • 代理人时起磊

  • 地址 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号

  • 入库时间 2023-06-19 13:16:59

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