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基于变形镜补偿的纳弧度量级三维角度测量方法与装置

摘要

本发明属于精密测量技术领域与光学工程领域,具体涉及基于变形镜补偿的纳弧度量级三维角度测量方法与装置;该装置由半导体激光光源、凸透镜、多狭缝光阑、分光镜、偏振分光镜、转折镜、变形镜、准直物镜组、面阵CCD、四象限位置探测器、固定平面反射镜以及反射靶标组成;该方法赋予反射靶标在光轴方向上的不对称性,使测量光束携带被测物俯仰角、偏航角信息的同时,敏感于被测物滚转角变化,从而使仪器装置具有对被测物三维角度变化的探测能力;由于本发明利用准直物镜组极大提高物镜焦距,因此具有在相同测量量程下,角度极限分辨力达到纳弧度量级的技术优势;利用凸透镜以及多狭缝光阑,同时利用四象限位置探测器与变形镜进行漂移量反馈,提高系统稳定性至十纳弧度量级,从而解决光束漂移量限制自准直仪极限分辨力的问题。此外,本发明所设计的系统装置具有结构体积小、测量精度高、测量频响高的技术优势。

著录项

  • 公开/公告号CN113639675A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-11-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 哈尔滨工业大学;

    申请/专利号CN202110876114.2

  • 申请日2021-07-30

  • 分类号G01B11/27(20060101);G01B11/26(20060101);

  • 代理机构23211 哈尔滨市阳光惠远知识产权代理有限公司;

  • 代理人刘景祥

  • 地址 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号

  • 入库时间 2023-06-19 13:15:27

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-11-01

    授权

    发明专利权授予

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