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一种基于条纹等值线方向的干涉条纹图像相位展开方法

摘要

本发明公开了一种基于条纹等值线方向的干涉条纹图像相位展开方法,结合光线干涉投射条纹切向方向上像素值相等的特点,将其作为光场剪切方向,利用最小二乘算法实现对干涉条纹包裹相位图进行展开处理,提高了全场相位的精度;其实现过程是:(1)从获得的干涉条纹二维包裹相位图像中设置一个9×9像素大小正方形窗口;(2)平移9×9窗口,并搜索干涉条纹等值线方向;(3)将获得二维复光场沿光纤干涉条纹等值线方向作1个像素的平移剪切,从而创建一个新的剪切光场;(4)将二维复光场与步骤3中构建的新的剪切光场进行相除运算获得一个新光场,并计算该光场的相位,得到二维复光场相位沿光纤干涉条纹等值线方向的梯度。

著录项

  • 公开/公告号CN113587851A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-11-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 天津工业大学;

    申请/专利号CN202110946601.1

  • 发明设计人 段晓杰;汪剑鸣;王琦;

    申请日2021-08-18

  • 分类号G01B11/25(20060101);G01J9/02(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 300387 天津市西青区宾水西道399号

  • 入库时间 2023-06-19 13:05:40

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