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一种基于响应面法的应变计敏感栅结构参数的优化方法

摘要

本发明提供一种基于响应面法的应变计敏感栅结构参数的优化方法,涉及应变计优化技术领域。首先确定应变计敏感栅需要考虑的结构参数和取值范围,并对其进行编码变换,得到试验因素水平表;确定应变计敏感栅结构参数的优化指标,即应变计敏感栅的应变传递误差,确定应变计敏感栅的应变传递误差的计算方法;用Box‑Behnken试验设计方法进行响应面试验方案的设计,并根据设计的方案完成试验;建立响应面模型,通过等高线图和响应曲面图判断结构参数影响情况,并得到回归方程;进行方差分析、显著性分析和误差分析,判断回归方程的拟合效果;最终得到使应变计敏感栅的应变传递误差最小,即精度最高的参数组合方案。

著录项

  • 公开/公告号CN113569448A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-10-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 沈阳航空航天大学;

    申请/专利号CN202110788901.1

  • 申请日2021-07-13

  • 分类号G06F30/23(20200101);G06F30/10(20200101);G06T17/20(20060101);

  • 代理机构21109 沈阳东大知识产权代理有限公司;

  • 代理人李珉

  • 地址 110136 辽宁省沈阳市道义经济开发区道义南大街37号

  • 入库时间 2023-06-19 13:02:24

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