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包含末端具有二醇结构的聚合生成物的药液耐性保护膜形成用组合物

摘要

提供下述保护膜形成用组合物、使用该组合物而制造的保护膜、带有抗蚀剂图案的基板、和半导体装置的制造方法,上述保护膜形成用组合物具有在半导体基板加工时对湿蚀刻液的良好的掩模(保护)功能、高干蚀刻速度,进一步对高低差基板也被覆性良好,埋入后的膜厚差小,能够形成平坦的膜。一种针对半导体用湿蚀刻液的保护膜形成用组合物,包含:末端具有分子内包含至少1组彼此相邻的2个羟基的结构的聚合物、和有机溶剂。上述分子内包含彼此相邻的2个羟基的结构可以为1,2‑乙二醇结构(A)。

著录项

  • 公开/公告号CN113574085A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-10-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 日产化学株式会社;

    申请/专利号CN202080018601.9

  • 发明设计人 远藤贵文;西田登喜雄;

    申请日2020-03-03

  • 分类号C08G59/14(20060101);G03F7/11(20060101);G03F7/26(20060101);H01L21/027(20060101);

  • 代理机构11247 北京市中咨律师事务所;

  • 代理人曾祯;段承恩

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2023-06-19 13:02:24

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-03-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):C08G59/14 专利申请号:2020800186019 申请日:20200303

    实质审查的生效

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