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一种普适性广的奥氏体混晶评价方法

摘要

一种普适性广的奥氏体混晶评价方法,属于混晶评价技术领域,解决现有混晶评价方法本身存在其局限性的技术问题,包括以下步骤:1)、随机选取视场,采用截弦法测量视场中的晶粒个数、每个晶粒的晶粒弦长及晶粒总弦长;2)、将每个晶粒的晶粒弦长从大到小依次排列,归纳整理每组组距宽度内晶粒出现的个数,计算每组晶粒总弦长;3)、确定每组晶粒总弦长占晶粒总弦长的百分比;4)、确定两端非优势样本晶粒的平均弦长记为平均晶粒弦长;5)、将平均晶粒弦长换算成晶粒度级别,混晶程度为两端非优势样本晶粒的晶粒度级别差。本发明制定的混晶评价方法,兼顾现有技术中各种混晶评价方法的局限性,具有更广泛的普适性,并且便于操作。

著录项

  • 公开/公告号CN113552029A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-10-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 太原科技大学;

    申请/专利号CN202110738402.1

  • 申请日2021-06-30

  • 分类号G01N15/02(20060101);

  • 代理机构14120 太原达引擎专利代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人郭栋梁

  • 地址 030000 山西省太原市万柏林区窊流路66号

  • 入库时间 2023-06-19 13:00:48

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-09-30

    授权

    发明专利权授予

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