一种基于商用工艺的低资源消耗DICE触发器设计方法

摘要

一种基于商用工艺的低资源消耗DICE触发器设计方法，在不影响芯片设计流程的情况下，从65nm商用MOS器件SEU发生机理出发，利用多节点电荷共享收集所产生的节点翻转再恢复Recovery效应，对在DICE触发器单元的物理版图层面实现抗SEU的加固设计，实现代价小、资源消耗低、可靠性高的目的。