用于自动识别产品的产品缺陷和/或用于自动识别产品缺陷的产品缺陷原因的方法和设备

摘要

本发明涉及一种用于自动识别产品(1、2、3、40、41、42、43、44、45)的产品缺陷和/或用于自动识别产品缺陷的产品缺陷原因的方法，包括以下步骤：‑通过多个制造步骤由多个产品元件(4、5、6、7、8、9、10、11、12、13、14、15、16、17、18)制造产品(1、2、3、40、41、42、43、44、45、100)，且‑通过至少一个产品检验来检测(101)n个检验信息，n个检验信息形成n维的检验值。根据本发明的方法的特征在于以下步骤：‑借助至少一个用于降维的检验值的统计过程实施(102)将n维的检验值降维，‑将已降维的检验值与多个已学习的参考值(46、47、48、49、50、51、52、53、54、55、56、57、58、59、60)进行比较(103)，‑将已降维的检验值配属给至少一组彼此类似的参考值(46、47、48、49、50、51、52、53、54、55、56、57、58、59、60、104)，且‑借助所述配属来自动识别产品缺陷(105)和/或产品缺陷原因(106)。本发明还涉及一种相应的设备。