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在X射线锥形束计算机断层扫描中校准X射线投影几何形状的方法

摘要

本发明涉及一种在X射线锥形束计算机断层扫描中进行X射线投影几何形状校准的方法,该方法包括:至少一个步骤(S1):获得通过围绕物体(3)相对旋转检测器和向检测器投影X射线的X射线源生成的物体(3)的至少一部分的二维X射线图像(1)或正弦图(2);其特征在于还包括:至少一个步骤(S4):通过使用经训练的人工智能算法在二维X射线图像(1)或正弦图(2)中检测物体(3)的至少一个特征(3a);以及至少一个步骤(S5):基于检测创建限定X射线投影的几何形状的校准信息。

著录项

  • 公开/公告号CN113226181A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-08-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN202080007291.0

  • 发明设计人 S·莫尔;S·温达克;

    申请日2020-04-17

  • 分类号A61B6/00(20060101);A61B6/12(20060101);A61B6/14(20060101);A61B6/03(20060101);

  • 代理机构11038 中国贸促会专利商标事务所有限公司;

  • 代理人高文静

  • 地址 美国宾夕法尼亚

  • 入库时间 2023-06-19 12:07:15

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-02-11

    实质审查的生效 IPC(主分类):A61B 6/00 专利申请号:2020800072910 申请日:20200417

    实质审查的生效

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