一种涂层厚度检测仪及涂层厚度的检验方法

摘要

本发明公开一种涂层厚度检测仪及涂层厚度的检验方法，涂层厚度检测仪包括探头，探头包括胶体、位移传感器和若干测量体，测量体和位移传感器均设置在胶体上，测量体呈一字排列，测量体用于检测涂层的厚度，位移传感器用于检测测量体发生的位移大小。本发明的涂层厚度检测仪具有若干个呈一字排列的测量体，探头移动后可以对涂层区域进行较大范围的检测，改变了现有单点测量涂层厚度的方式，使得测量结果更加接近真实情况。本发明的涂层厚度的检验方法将测量数据导入三维坐标系中进行分析，能准确且直观地反映出所测量的涂层厚度与涂层设计厚度之间的差异，提高涂层厚度的检验效率和检验准确度。