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一种纳米尺度的片上相位奇点调控方法

摘要

本发明提供的是一种纳米尺度的片上相位奇点调控方法。其特征是:实现一种纳米尺度的片上相位奇点调控方法的器件结构包括激光器1,空间光调制器2,计算机3,起偏器4‑1,1/4波片4‑2,物镜5,衬底6,纳米金属膜7,环形纳米槽8以及纳米探针9。激光器1出射的光束经空间光调制器2变换后转变成涡旋光,该涡旋光随后通过起偏器4‑1,1/4波片4‑2,物镜5垂直入射到衬底6,在纳米环形槽8处激发表面等离极化激元(SPPs),SPPs在纳米金属膜7表面传递形成电场分布。利用纳米探针9可测量SPPs的强度分布和相位分布。通过计算机3调控空间光调制器2反射光束射入衬底6的横向位置,可在纳米金属膜7表面获得相位奇点并能实现对相位奇点的连续、高精度调控。

著录项

  • 公开/公告号CN112817140A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-05-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 桂林电子科技大学;

    申请/专利号CN202110038124.9

  • 发明设计人 刘厚权;解正浩;苑立波;

    申请日2021-01-12

  • 分类号G02B26/06(20060101);G02B5/00(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 541004 广西壮族自治区桂林市桂林金鸡路1号

  • 入库时间 2023-06-19 11:02:01

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-12-30

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G02B26/06 专利申请号:2021100381249 申请公布日:20210518

    发明专利申请公布后的视为撤回

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